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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - encuadernado, tapa blanda

1989, ISBN: 0890063508

[EAN: 9780890063507], Gebraucht, sehr guter Zustand, [SC: 3.5], [PU: Artech House Inc], INGENIEURWISSENSCHAFT & TECHNIK / NATURWISSENSCHAFTEN ELEKTROTECHNIK TECHNOLOGIE, 556 Seiten Gepfle… Más…

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[EAN: 9780890063507], Gebraucht, sehr guter Zustand, [PU: Artech House Inc], INGENIEURWISSENSCHAFT & TECHNIK / NATURWISSENSCHAFTEN ELEKTROTECHNIK TECHNOLOGIE, 556 Seiten Gepflegtes ehemal… Más…

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1989

ISBN: 0890063508

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1989, ISBN: 9780890063507

Hardcover book. 556 pages. Published by Artech House Publishers (1989) Media > Book

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1989, ISBN: 9780890063507

Buch, Hardcover, [PU: Artech House Publishers], Artech House Publishers, 1989

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
Microelectronic Reliability
Autor:
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ISBN:

9780890063507


A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Detalles del libro - Microelectronic Reliability


EAN (ISBN-13): 9780890063507
ISBN (ISBN-10): 0890063508
Tapa dura
Tapa blanda
Año de publicación: 1989
Editorial: Artech House Publishers
556 Páginas
Peso: 1,089 kg
Idioma: eng/Englisch

Libro en la base de datos desde 2007-07-27T22:00:15-05:00 (Mexico City)
Página de detalles modificada por última vez el 2024-01-03T19:19:04-06:00 (Mexico City)
ISBN/EAN: 9780890063507

ISBN - escritura alterna:
0-89006-350-8, 978-0-89006-350-7
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Título del libro: microelectronic, reliability

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