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MEMS Reliability - Jeong-Yeol Yoon
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Jeong-Yeol Yoon:

MEMS Reliability - libro nuevo

ISBN: 9781441960184

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep und… Más…

No. 9781441960184. Gastos de envío:Instock, Despatched same working day before 3pm, zzgl. Versandkosten., más gastos de envío
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Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea:

MEMS Reliability - libro nuevo

2010, ISBN: 9781441960184

eBooks, eBook Download (PDF), 2011, The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely unders… Más…

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MEMS Reliability
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Nr. 978-1-4419-6018-4. Gastos de envío:Worldwide free shipping, , DE. (EUR 0.00)
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MEMS Reliability - Allyson L. Hartzell/ Herbert R. Shea/ Mark G. Da Silva
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Detalles del libro

Detalles del libro - MEMS Reliability


EAN (ISBN-13): 9781441960184
ISBN (ISBN-10): 144196018X
Año de publicación: 2010
Editorial: Springer US
291 Páginas
Idioma: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 9781441960184

ISBN - escritura alterna:
1-4419-6018-X, 978-1-4419-6018-4
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: silva, erb herbert, hartz, shea mark, herbert hart, hartzell
Título del libro: mems reliability


Datos del la editorial

Autor: Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea
Título: MEMS Reference Shelf; MEMS Reliability
Editorial: Springer; Springer US
291 Páginas
Año de publicación: 2010-11-02
New York; NY; US
Impreso en
Idioma: Inglés
117,69 € (DE)
121,00 € (AT)
136,00 CHF (CH)
Available
XIII, 291 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik; Verstehen; MEMS; MEMS reliability; design for reliability; design strategies; failure analysis; failure mechanisms; packaging and testing; process development and characterization; C; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Engineering; BB

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it.

MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.

Introduction.- Reliability /Weibull, bathtub curve, basics (What is reliability?).- Failure Modes and Physics of Failure (POF).- Strategies for identifying root cause (FMEA).- Manufacturing Processes & Procedures.- Testing & Qualification Processes & Procedures.- Improving Reliability: Techniques and Tools.- Design for Reliability (DFR).

Demonstrates how to design MEMs for reliability during the product life cycle focusing CAD methodologies and system level architecture

Provides detailed information on the different types of failure modes, including but not limited to, design failures, manufacturing failures, and material failure, and how to avoid them

Discusses testing, qualification, processes and procedures for MEMs reliability and the specific tests for enhancing reliability

Includes supplementary material: sn.pub/extras



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