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Atomic and Nuclear Analytical Methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques - Hem Raj Verma
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Hem Raj Verma:

Atomic and Nuclear Analytical Methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques - Pasta blanda

2010, ISBN: 3642067735

[EAN: 9783642067730], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], ACCELERATORS; ATOMICANDNUCLEARPHYSICS; MASSSPECTROMETRY; MATERIALANALYSIS; MÖSSBAUERSPECTROSCOPY; RADIATIONPHYS… Más…

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ISBN: 9783642067730

This book is a blend of analytical methods based on the phenomenon of atomic and nuclear physics. It comprises comprehensive presentations about X-ray Fluorescence (XRF), Mössbauer Spect… Más…

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2010, ISBN: 9783642067730

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 392 Seiten, Publiziert: 2010-02-12T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 128 black & white illustrat… Más…

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2010, ISBN: 9783642067730

Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 390 Seiten, Publiziert: 2010-02-12T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: 128 black & white illustratio… Más…

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Autor:
Título:
ISBN:

9783642067730


This book compares and offers a comprehensive overview of nine analytical techniques important in material science and many other branches of science. All these methods are already well adapted to applications in diverse fields such as medical, environmental studies, archaeology, and materials science. This clearly presented reference describes and compares the principles of the methods and the various source and detector types.

Detalles del libro - Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques


EAN (ISBN-13): 9783642067730
ISBN (ISBN-10): 3642067735
Tapa dura
Tapa blanda
Año de publicación: 2010
Editorial: Springer
392 Páginas
Peso: 0,591 kg
Idioma: eng/Englisch

Libro en la base de datos desde 2011-09-12T10:04:00-05:00 (Mexico City)
Página de detalles modificada por última vez el 2023-12-03T21:01:11-06:00 (Mexico City)
ISBN/EAN: 9783642067730

ISBN - escritura alterna:
3-642-06773-5, 978-3-642-06773-0
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: hem, verma
Título del libro: spectroscopic methods, ion, xps

Datos del la editorial

Autor: Hem Raj Verma
Título: Atomic and Nuclear Analytical Methods - XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Editorial: Springer; Springer Berlin
376 Páginas
Año de publicación: 2010-02-12
Berlin; Heidelberg; DE
Impreso en
Peso: 0,599 kg
Idioma: Inglés
307,99 € (DE)

BC; Measurement Science and Instrumentation; Hardcover, Softcover / Technik/Allgemeines, Lexika; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Verstehen; Accelerators; Atomic and nuclear physics; Mass Spectrometry; Material analysis; Mössbauer spectroscopy; Radiation physics; X-ray spectroscopy; scattering; spectroscopy; Analytical Chemistry; Characterization and Evaluation of Materials; Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics; Condensed Matter Physics; Measurement Science and Instrumentation; Analytical Chemistry; Characterization and Analytical Technique; Atomic, Molecular and Chemical Physics; Condensed Matter Physics; Analytische Chemie; Werkstoffprüfung; Atom- und Molekularphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); BB

X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE).- Rutherford Backscattering Spectroscopy.- Elastic Recoil Detection.- Mössbauer Spectroscopy (MS).- X-Ray Photoelectron Spectroscopy.- Neutron Activation Analysis.- Nuclear Reaction Analysis and Particle-Induced Gamma-Ray Emission.- Accelerator Mass Spectrometry (AMS).

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