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Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science.  Bd. I - IV - David B. Williams, C. Barry Carter
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David B. Williams, C. Barry Carter:

Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV - Pasta blanda

ISBN: 030645324X

[SR: 477277], Taschenbuch, [EAN: 9780306453243], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 403432, Schule & Lernen, 405500, Allgemeinbildung, 14025941, Berufs- & Fachschulbücher… Más…

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[SR: 477277], Taschenbuch, [EAN: 9780306453243], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 403432, Schule & Lernen, 405500, Allgemeinbildung, 14025941, Berufs- & Fachschulbücher… Más…

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Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - David B. Williams, C. Barry Carter
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David B. Williams, C. Barry Carter:
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - Pasta blanda

ISBN: 9780306453243

by Williams, David B.; Carter, C.... | PB | Acceptable, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) by Williams, David B.; Carter, C. Barry Readable cop… Más…

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Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - Pasta blanda

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], Used, very good, [PU: Springer], Books

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Carter C. Barry Williams David B.:
Transmission Electron Microscopy - Pasta blanda

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], [PU: Springer], pp. 703, Books

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science.  Bd. I - IV

This groundbreaking text provides the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials characterization technique and is supported by over 600 illustrations and diagrams.

Detalles del libro - Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV


EAN (ISBN-13): 9780306453243
ISBN (ISBN-10): 030645324X
Tapa blanda
Año de publicación: 1996
Editorial: Springer
703 Páginas
Peso: 1,964 kg
Idioma: eng/Englisch

Libro en la base de datos desde 2007-04-23T18:18:06-05:00 (Mexico City)
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ISBN/EAN: 030645324X

ISBN - escritura alterna:
0-306-45324-X, 978-0-306-45324-3
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: david carter, carter william, carter barry, williams and carter
Título del libro: transmission electron microscopy textbook for materials science


Datos del la editorial

Autor: David B. Williams; C. Barry Carter
Título: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science
Editorial: Springer; Springer US
729 Páginas
Año de publicación: 2004-08-31
New York; NY; US
Impreso en
Peso: 1,840 kg
Idioma: Inglés
85,59 € (DE)
87,99 € (AT)
106,60 CHF (CH)
Not available, publisher indicates OP

BC; Book; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; electron microscope; electron microscopy; diffraction; crystal; microscopy; transmission electron microscopy; Helium-Atom-Streuung; materials characterization; B; Physics and Astronomy; Spectroscopy and Microscopy; Surface and Interface Science, Thin Films; Solid State Physics; Characterization and Evaluation of Materials; Biological Microscopy; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Werkstoffprüfung; Biologie, Biowissenschaften; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; BB; BC

Basics: 1. The Transmission Electron Microscope. 2. Scattering and Diffraction. 3. Elastic Scattering. 4. Inelastic Scattering and Beam Damage. 5. Electron Sources. 6. Lenses, Apertures, and Resolution 7. How to `See' Electrons. 8. Pumps and Holders. 9. The Instrument 10. Specimen Preparation. Diffraction: 11. Diffraction Patterns. 12. Thinking in Reciprocal Space 13. Diffracted Beams. 14. Bloch Waves. 15. Dispersion Surfaces. 16. Diffraction from Crystals. 17. Diffraction from Small Volumes. 18. Indexing Diffraction Patterns. 19. Kikuchi Diffraction. 20. Obtaining CBED Patterns. 21. Using Covergent-Beam Technologies. Imaging: 22. Imaging in the TEM. 23. Thickness and Bending Effects. 24. Planar Defects. 25. Strain Fields. 26. WeakBeam Dark-Field Microscopy. 27. Phase-Contrast Images. 28. High-Resolution TEM. 29. Image Simulation. 30. Quantifying and Processing HRTEM Images. 31. Other Imaging Techniques. Spectrometry: 32. Xray Spectrometry. 33. The XEDS-TEM Interface. 34. Qualitative Xray Analysis. 35. Quantitative Xray Microanalysis. 36. Spatial Resolution and Minimum Detectability. 37. Electron EnergyLoss Spectrometers. 38. The EnergyLoss Spectrum. 39. Microanalysis with Ionization-Loss Electrons. 40. Everything Else in the Spectrum. Index.

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