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X-Ray Scattering from Semiconductors - encuadernado, tapa blanda

ISBN: 1860941591

[SR: 2499265], Gebundene Ausgabe, [EAN: 9781860941597], World Scientific Pub Co (, World Scientific Pub Co (, Book, [PU: World Scientific Pub Co (], World Scientific Pub Co (, 60537011, H… Más…

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X-Ray Scattering from Semiconductors - libro usado

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X-ray scattering is used extensively to provide detailed structural information about materials. Semiconductors have benefited from X-ray scattering techniques as an essential feedback me… Más…

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X-ray Scattering From Semiconductors - encuadernado, tapa blanda

2000

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Buch, Hardcover, X-ray scattering is used extensively to provide detailed structural information about materials. Semiconductors have benefited from X-ray scattering techniques as an esse… Más…

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2000, ISBN: 9781860941597

Imperial College Press, Hardcover, 304 Seiten, Publiziert: 2000-12-13T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 0.57 kg, Books Global Store, Special Features, Books, Physical Chemistry, Chemistry, … Más…

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
X-ray Scattering From Semiconductors
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1860941591


X-ray scattering is used extensively to provide detailed structural information about materials. Semiconductors have benefited from X-ray scattering techniques as an essential feedback method for crystal growth, including compositional and thickness determination of thin layers. The methods have been developed to reveal very detailed structural information concerning material quality, interface structure, relaxation, defects, surface damage, etc.This book provides a thorough description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for interpreting the data to build a picture of the sample, much of which will be common to materials other than semiconductors.

Detalles del libro - X-ray Scattering From Semiconductors


EAN (ISBN-13): 9781860941597
ISBN (ISBN-10): 1860941591
Tapa dura
Año de publicación: 2001
Editorial: Imperial College Press
287 Páginas
Peso: 0,567 kg
Idioma: eng/Englisch

Libro en la base de datos desde 2007-10-29T09:42:13-06:00 (Mexico City)
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ISBN/EAN: 1860941591

ISBN - escritura alterna:
1-86094-159-1, 978-1-86094-159-7
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Título del libro: ray scattering from semiconductors

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