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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45) - Pasta blanda

2010, ISBN: 9783642083723

Editor: Hawkes, P.W. Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998, 543 Seiten, Publiziert: 2010-12-01T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: biogr… Más…

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Scanning Electron Microscopy Physics of Image Formation and Microanalysis - Pasta blanda

2010, ISBN: 3642083722

Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998 Kartoniert / Broschiert Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie, Rasterelektronenmikroskopie; scanningtunnelingcrystal; diffract… Más…

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Scanning Electron Microscopy - Pasta blanda

ISBN: 9783642083723

Scanning Electron Microscopy ab 192.49 € als Taschenbuch: Physics of Image Formation and Microanalysis. Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998. Aus dem Bereich: Bücher, Wissenscha… Más…

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2010, ISBN: 3642083722

[EAN: 9783642083723], Neubuch, [PU: Springer], Books

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2010, ISBN: 3642083722

[EAN: 9783642083723], Gebraucht, wie neu, [PU: Springer], Unread book in perfect condition., Books

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
Scanning Electron Microscopy
Autor:
Título:
ISBN:

9783642083723


Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Detalles del libro - Scanning Electron Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783642083723
ISBN (ISBN-10): 3642083722
Tapa dura
Tapa blanda
Año de publicación: 2010
Editorial: Springer Berlin Heidelberg

Libro en la base de datos desde 2011-08-01T11:50:49-05:00 (Mexico City)
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ISBN/EAN: 9783642083723

ISBN - escritura alterna:
3-642-08372-2, 978-3-642-08372-3
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: ludwig reimer, hawkes, ludwig reimers
Título del libro: optical microscopy, science microscopy, scanning electron microscopy physics image formation and microanalysis, ludwig

Datos del la editorial

Autor: Ludwig Reimer
Título: Springer Series in Optical Sciences; Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis
Editorial: Springer; Springer Berlin
529 Páginas
Año de publicación: 2010-12-01
Berlin; Heidelberg; DE
Impreso en
Idioma: Inglés
329,99 € (DE)

BC; Hardcover, Softcover / Chemie/Physikalische Chemie; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; Rasterelektronen Mikroskopie; Scanning Tunneling Microscopy; crystal; diffraction; electron microscope; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscope; Spectroscopy; Condensed Matter Physics; Surface and Interface and Thin Film; Physics and Astronomy; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Mathematik und Naturwissenschaften; BB; BB; EA

provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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