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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente
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Detalles del libro - Applied Scanning Probe Methods XI
EAN (ISBN-13): 9783642098697
ISBN (ISBN-10): 364209869X
Tapa dura
Tapa blanda
Año de publicación: 2010
Editorial: Springer Berlin
292 Páginas
Peso: 0,445 kg
Idioma: eng/Englisch
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ISBN/EAN: 9783642098697
ISBN - escritura alterna:
3-642-09869-X, 978-3-642-09869-7
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: bhushan, harald fuchs
Título del libro: scanning probe microscopy nanoscience, applied methods, probe aufnahmen
Datos del la editorial
Autor: Bharat Bhushan
Título: NanoScience and Technology; Applied Scanning Probe Methods XI - Scanning Probe Microscopy Techniques
Editorial: Springer; Springer Berlin
236 Páginas
Año de publicación: 2010-11-16
Berlin; Heidelberg; DE
Impreso en
Idioma: Inglés
120,99 € (DE)
BC; Hardcover, Softcover / Technik/Allgemeines, Lexika; Elektronik; Verstehen; AFM; REM; ceramics; microscopy; polymer; spectroscopy; ultrasound; Microsystems and MEMS; Spectroscopy; Surface and Interface and Thin Film; Nanotechnology; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Polymers; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Nanotechnologie; Materialwissenschaft; Technische Anwendung von Polymeren und Verbundwerkstoffen; BB
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.Más, otros libros, que pueden ser muy parecidos a este:
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