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Allyson L. Hartzell:

MEMS Reliability - encuadernado, tapa blanda

2010, ISBN: 1441960171

[EAN: 9781441960177], Neubuch, [PU: SPRINGER NATURE Nov 2010], TECHNOLOGY & INDUSTRIAL ARTS; ENGINEERING / ELECTRONICS CIRCUITS GENERAL; MICROELECTRONICS; MATERIALS SCIENCE, This item is … Más…

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Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea:

MEMS Reliability - encuadernado, tapa blanda

2010, ISBN: 9781441960177

Buch, Hardcover, The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies tha… Más…

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Hartzell, Allyson L., Mark G. da Silva und Herbert R. Shea:
MEMS Reliability - libro usado

2010

ISBN: 9781441960177

[PU: Springer US], Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt 6155899/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2011, Banküberweisung, Kreditkarte, PayPal, Klarna-Sofort… Más…

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2010, ISBN: 1441960171

[EAN: 9781441960177], [PU: Springer], pp. 308 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam, Books

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Hartzell, Allyson L.:
MEMS Reliability - encuadernado, tapa blanda

ISBN: 9781441960177

hardback, [PU: Springer]

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
MEMS Reliability
Autor:
Título:
ISBN:

1441960171


The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it. MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.

Detalles del libro - MEMS Reliability


EAN (ISBN-13): 9781441960177
ISBN (ISBN-10): 1441960171
Tapa dura
Año de publicación: 2010
Editorial: Springer-Verlag New York Inc.
290 Páginas
Peso: 0,617 kg
Idioma: eng/Englisch

Libro en la base de datos desde 2009-03-21T21:27:00-06:00 (Mexico City)
Página de detalles modificada por última vez el 2023-12-11T01:42:12-06:00 (Mexico City)
ISBN/EAN: 1441960171

ISBN - escritura alterna:
1-4419-6017-1, 978-1-4419-6017-7
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: silva, mark ber, hartz, stephen shea, herbert hart, hartzell
Título del libro: mems reliability

Datos del la editorial

Autor: Allyson L. Hartzell
Título: MEMS Reference Shelf; MEMS Reliability
Editorial: Springer; Springer US
291 Páginas
Año de publicación: 2010-11-11
New York; NY; US
Impreso en
Idioma: Inglés
175,99 € (DE)

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik; Verstehen; MEMS; MEMS reliability; design for reliability; design strategies; failure analysis; failure mechanisms; packaging and testing; process development and characterization; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; BC

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