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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy - libro nuevo

2001, ISBN: 3896853686

Kartoniert / Broschiert Elektronik / Halbleiter, Halbleiter, Leitung (physikalisch) / Halbleiter, mit Schutzumschlag neu, [PU:Wissenschaft + Technik Ve; Wissenschaft & Technik Verlag, In… Más…

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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth By Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy - Pasta blanda

2001, ISBN: 9783896853684

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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy Martin Ebert Taschenbuch Englisch 2001 - Pasta blanda

2001

ISBN: 9783896853684

[ED: Taschenbuch], [PU: Wissenschaft + Technik Ve], DE, [SC: 0.00], Neuware, gewerbliches Angebot, 112, [GW: 156g], Sofortüberweisung, PayPal, Banküberweisung

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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy (Paperback) - Pasta blanda

2001, ISBN: 3896853686

[EAN: 9783896853684], Neubuch, [PU: Wissenschaft + Technik Ve, N/A], Language: English. Brand new Book.

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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy - Pasta blanda

ISBN: 3896853686

[EAN: 9783896853684], Neubuch, [PU: Wissenschaft + Technik Ve]

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Detalles del libro
Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy
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ISBN:

3896853686

Detalles del libro - Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy


EAN (ISBN-13): 9783896853684
ISBN (ISBN-10): 3896853686
Tapa blanda
Año de publicación: 2001
Editorial: Wissenschaft & Technik

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Página de detalles modificada por última vez el 2020-08-15T12:10:06-05:00 (Mexico City)
ISBN/EAN: 3896853686

ISBN - escritura alterna:
3-89685-368-6, 978-3-89685-368-4
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Título del libro: ellipsometry

Datos del la editorial

Autor: Martin Ebert
Título: Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy
Editorial: Wissenschaft & Technik
112 Páginas
Peso: 0,140 kg
Idioma: Inglés
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55,00 CHF (CH)
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