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Chin, Alan K.; Wang, S. C.; Dutta, Niloy K.; Linden, Kurt J.:

Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices (SPIE Proceedings Volume 4285) - Pasta blanda

2001, ISBN: 0819439630

[EAN: 9780819439635], [PU: SPIE], OPTICAL OPTOELECTRONIC DEVICES MEDICAL MEDICINE, Technology|Electronics|Optoelectronics, Technology|General, 0819439630 | Yellow covers. Clean pages, tig… Más…

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Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices (Spie Proceedings Volume 4285) - Pasta blanda

2001, ISBN: 9780819439635

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Testing Reliability and Application: 24-26 January, 2001, San Jose, California USA (Proceedings of Spie--the International Society for Optical Engineering, V. 4285.) - Pasta blanda

2001

ISBN: 9780819439635

SPIE-International Society for Optical Engine, 2001-05. Paperback. Good., SPIE-International Society for Optical Engine, 2001-05

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Aland K. Chin:
Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices - encuadernado, tapa blanda

ISBN: 9780819439635

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Detalles del libro
Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices
Autor:
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ISBN:

9780819439635

Detalles del libro - Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices


EAN (ISBN-13): 9780819439635
ISBN (ISBN-10): 0819439630
Tapa dura
Tapa blanda
Año de publicación: 2001
Editorial: SPIE Press

Libro en la base de datos desde 2007-10-16T08:34:05-05:00 (Mexico City)
Página de detalles modificada por última vez el 2018-07-18T21:14:04-05:00 (Mexico City)
ISBN/EAN: 9780819439635

ISBN - escritura alterna:
0-8194-3963-0, 978-0-8194-3963-5
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: linden, kurt aland
Título del libro: optoelectronic devices

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