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Chiang, Charles; Kawa, Jamil:

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - Pasta blanda

2008, ISBN: 9048110211, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Gastos de envío:Versandkostenfrei innerhalb der BRD

Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 288 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=15mm, Gew.=408gr, [GR: 26460 - TB/Atomphysik/Kernphysik], [SW: - Technolog… Más…

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
Autor:
Título:
ISBN:

9789048110216


This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

Detalles del libro - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS


EAN (ISBN-13): 9789048110216
ISBN (ISBN-10): 9048110211
Tapa blanda
Año de publicación: 2008
Editorial: SPRINGER VERLAG GMBH
288 Páginas
Peso: 0,408 kg
Idioma: eng/Englisch

Libro en la base de datos desde 2010-07-03T10:21:58-05:00 (Mexico City)
Página de detalles modificada por última vez el 2010-07-03T10:21:58-05:00 (Mexico City)
ISBN/EAN: 9789048110216

ISBN - escritura alterna:
90-481-1021-1, 978-90-481-1021-6

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